Ein Spezialgebiet unserer Forschungsgruppe ist die Untersuchung der unterschiedlichen Schichten mittels Rasterelektronenmikroskopie (REM). Diese Technologie ermöglicht Aufnahmen mit enormer Vergrößerung (bis zu 1 000 000-fach), wodurch wir die teils nur Nanometer dicke Schichten abbilden können. Mithilfe von REM basierten Methoden wie Kathodolumineszenz (CL), Energiedispersive- Röntgen-Spektroskopie (EDX) und Elektron-Beam-Induced-Current (EBIC) Messungen können wir die Bandübergänge, die elementare Zusammensetzung und die Stromsammlung in der Solarzelle mit einer lateralen Auflösung von weniger als 10 Nanometer untersuchen. Zusammen mit klassischen Analysemethoden lassen sich dadurch fundamentale Zusammenhänge beschreiben. Die Untersuchung von sogenannten Microcells mittels hochvakuumtauglichen Minirobotern ermöglicht es uns den Zusammenhang zwischen morphologischen Defekten und der Device Performance zu erforschen.
Micro-Solarzellen zur Untersuchung der Einflüsse von Inhomogenitäten mittels Minirobotern integriert in einem Elektronenmikroskop.
Querschnitte des Schichtaufbaus einer CIGS-Dünnschichtsolarzelle: polierter Querschnitt inklusive Substrat (rechts); gebrochener Querschnitt des Schichtaufbaus (links oben); Plasma polierter Querschnitt des Schichtaufbaus (links unten).
Querschnitte des Schichtaufbaus einer CIGS-Dünnschichtsolarzelle: polierter Querschnitt inklusive Substrat (rechts); gebrochener Querschnitt des Schichtaufbaus (links oben); Plasma polierter Querschnitt des Schichtaufbaus (links unten).